Cámara de prueba de envejecimiento por vapor
Adecuado para conectores electrónicos, circuitos integrados semiconductores, transistores, diodos, LCD de cristal líquido,
Resistencia de chip, capacitancia, componentes de la industria, componentes electrónicos, prueba de soldadura de pines metálicos
Prueba de vida útil acelerada previa al envejecimiento; semiconductores, componentes pasivos, oxidación de pines de piezas
Experimento. Controlador de temperatura por microordenador, pantalla digital LED, control PID+SSR, platino
Sensor de temperatura de resistencia (PT-100), resolución 0,1℃, dispositivo de protección de seguridad totalmente automático.
Parámetros tecnológicos
Tamaño de la caja interior (An. x Al. x Pr.) mm | 500x400x200 |
Tamaño de la caja exterior (An. x Al. x Pr.) mm | 600x500x420 |
| Precisión del instrumento de medición de temperatura | ±0,5 |
| Temperatura del vapor (℃) | Hasta 97℃ |
Controladores | Control de temperatura del microordenador PID, modo de calefacción PID+SCR. |
Tiempo de calentamiento | Aproximadamente 45 minutos de precisión de control ±0,5 ℃ |
| Minutero | 9999 puntos. |
Voltaje | Potencia 220V 2KW. |
Característica
Detalles
Solicitud
